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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
性能FIB切割、信号采集、3维重构(断层摄影术),3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化成熟的SEM/FIB/GIS操作软件,图像采集、存档、处理和分析功能FERA3配置FERA3 XMH是
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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB
SEM:分辨率:3.5nm at 30kV高真空模式、ESEM环境真空模式 SEM:加速电压200V-30kV FIB:分辨率 7nm at 30kV; FIB:加速电压
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高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
,不但可以在低加速电压下实现高分辨观察,还可以在FIB加工时实现实时观察。SEM镜筒内标配3个探测器,可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像;可非常方便的帮助FIB找寻到纳米
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PP3010 Cryo-FIB/SEM 冷冻传输制备系统
)Versa 3 D FIB/SEM)太阳神 650 (FIB/SEM)。J停产JEOL 7800F FE-SEM.日立高新技术左:日立SU500 FE-SEM。右图:日立SU8230 FE-SEM
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
台设备上,横向的空间分辨率可以达到50nm,而纵向的空间分辨率可以达到15nm。用户可以清晰的感受到TOP-SIMS和FIB-SEM结合后的所有优势(成像、蚀刻、沉积、光刻、微操作),并能在完成纳米级
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CrossLab 多厂商仪器服务
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SEM-FIB电镜腔体远程等离子清洗 RPS50
RPS50SEM扫描电镜原位等离子清洗仪适用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗及样品积碳清洗。 RPS50 SEM扫描电镜清洗仪适用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢
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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
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日立 MI4050高性能聚焦离子束系统FIB-SEM
项目内容样品尺寸50mm×50mm×12mm(t)以下样品台5轴电动机械优中心马达台加速电压1~30kV (0.5kV~ 选配)(0.5~1.0kV : 步长0.1kV)(1.0~2.0kV : 步长
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